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刊名 科技新时代
作者 张其远 张骏言 赵升旭 王 涵 姜宇轩 单位 吉林建筑大学 吉林 长春 130000 年,卷(期) 2024年,第5期
主办单位 北京卓众出版有限公司 国内刊号 CN11-3750/N 国际刊号 ISSN1006-981X
入库时间 2024-06-15
Ga203器件栅下绝缘层厚度对击穿电压的影响仿真分析
作者:张其远 张骏言 赵升旭 王 涵 姜宇轩 时间:2024-06-15 阅读:418
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摘要:相比于以Si为代表的第一代半导体材料和以GaAs为代表的第二代半导体材料,以SiC、GaN、Ga203为代表的第三代半导体材料因具有禁带宽度大、击穿场强高、电子饱和速度大、导热性能好等优点近年来在高功率器件领域得到了广泛研究。本文以Ga203材料为研究对象,采用仿真的方法分析了Ga203器件栅下绝缘层厚度对击穿电压的影响。

关键词:Ga203;绝缘层厚度;击穿电压